色差計儀器的照明和觀察條件用“照明/觀察”表示。有以下4種：45°/vertical（用45/0表示）、vertical/45°（用0/45表示）、diffuse/vertical（用d/0表示）、vertical/diffuse（用0/表示d 快遞）。測量過程中，應(yīng)在參考樣片檢定證書上注明光照和觀察條件，并根據(jù)比色計的光照和觀察條件選擇相同光照和觀察條件下的數(shù)據(jù)進行檢定。如果選擇不同條件下的數(shù)據(jù)，結(jié)果可能會有很大差異，因此在數(shù)據(jù)參考中也需要正確選擇相應(yīng)光照和觀察條件下的數(shù)據(jù)，以保證正確的數(shù)據(jù)處理。

色差計的照明和觀察條件

在選擇使用色差儀中，經(jīng)常會遇到照明條件和觀測幾何條件這個參數(shù)，那么什么是照明條件和幾何條件呢，今天在這里分享一波干貨。人眼不能正確的用數(shù)量來表示顏色，但是我們可以運用色差儀和分光測色儀來測量顏色那是再簡單不過的了。而照明光源、被測樣品和傳感器，三者之間的位置關(guān)系就是顏色測量中的照明觀測幾何條件，簡稱幾何條件。?CIE15：2004建議的反射樣品測量幾何條件共有十種：

1.di:8

漫射照明，8°方向接收，包括鏡面反射成分。樣品被積分球在所有方向上均勻地漫射照明，照明面積應(yīng)大于被測面積。接收光束的軸線與樣品中心的法線之間的夾角為8°，接收光束的軸線與任一條光線之間的夾角不應(yīng)超過5°，探測器表面的響應(yīng)要求均勻，并且被吸收光束均勻地照明。

2.de:8

漫射照明，8°方向接收，排除鏡面反射成分。幾何條件同di:8，只是接收光束中不包括鏡面反射成分，也不包括與鏡面反射呈以內(nèi)的其他光線。

3. 8:di

8°方向照明，漫反射接收，包括鏡面反射成分。幾何條件同di:8，只是di:8°的逆向光路。

4. 8:de

8°方向照明，漫反射接收，排除鏡面反射成分。幾何條件同de:8，是de:8的逆向光路。

5.d:d

漫射照明，漫反射接收。幾何條件同di:8，只是漫反射光用積分球從所有方向上接收。在這種幾何條件下測試，照明面積和接收面積是一致的。

6.d:0

漫射照明，0°方向接收，排除鏡面反射成分。d:0是漫射照明的另一種形式。樣品被積分球漫射照明，在樣品法線方向上接收。這種幾何條件能很好地排除鏡面反射成分。

7.45ɑ:0

45°環(huán)形照明，0°方向接收。樣品被環(huán)形圓錐光束均勻地照明，該環(huán)形圓錐的軸線在樣品法線上，頂點在樣品中心，內(nèi)圓錐半角為40°，外圓錐半角為50°，兩圓錐之間的光束用以照明樣品。在法線方向上接收，接收光錐的半角為5°，接收光束應(yīng)均勻地照明探測器。

8.0:45ɑ

0°方向照明，45°環(huán)形接收。幾何條件與45ɑ:0相同，只是45ɑ:0的逆向光路。在法線方向上照明樣品，在與法線成45°方向上環(huán)形接收。

9.45x:0

45°定向照明，0°方向接收。幾何條件與45ɑ:0相同，但照明方向只有一個，而不是環(huán)形?！皒”表示照明的方位。在法線方向上接收。

10.0:45x

0°方向照明，45°定向接收。幾何條件同45x:0，不過是45x:0的逆向光路。在法線方向上照明樣品，在一定的方位角上與法線成45°角接收。

看了以上十種反射樣品測量幾何條件，是不是有點一頭霧水呢？

對于保來發(fā)NR110+型號的色差儀采用CIE建議的8：di和8：de幾何條件測量。在測量粗糙物體的顏色時，采用8：di幾何條件，讓更多的光線進入探測器。在測量高光澤物體的顏色時，采用8：de幾何條件，去除反射光對顏色測量的影響。

NR110+型號的分光測色儀采用CIE建議的di：8和de：8幾何測量條件。通過擋板和光阱的設(shè)計，創(chuàng)造性的將兩種幾何條件有機的結(jié)合到一個儀器里面，實現(xiàn)SCI/SCE兼容照明觀察條件。

在使用積分球時，應(yīng)避免光源直接照射在被測樣品表面，破壞漫射照明效果，應(yīng)在被測樣品和照明光源之間加擋板阻隔光線的直接傳遞。為了保證漫射照明效果，積分球開口面積不能大于積分球內(nèi)壁總面積的10%。

色差計鏡面反射

光在物體表面的反射往往與角度有關(guān)。一般可分為鏡面反射和漫反射兩種。在漫反射中，理想的稱為完全漫反射，但在大多數(shù)情況下，不完全漫反射同時具有鏡面和漫反射分量。一般來說，樣品的鏡面反射光并不代表樣品本身的顏色特征，而是更多地反映了光源的顏色特征。因此，在色度計檢定過程中，需要明確是否包括鏡面反射，否則測量結(jié)果會有很大差異。對于使用漫反射/垂直、垂直/漫反射條件的儀器，可以通過設(shè)置光澤吸收陷阱并指定光澤吸收陷阱的大小、形狀和位置來處理鏡面反射分量的影響。當(dāng)需要與鏡面反射一起測量時，在0/d條件下，不宜在嚴(yán)格垂直照明下測量；相反，在 d/0 條件下，不應(yīng)在嚴(yán)格的垂直觀察下測量樣品。兩者都應(yīng)在不使用光澤吸收阱的情況下進行測量。當(dāng)不需要包括鏡面反射分量測量時，應(yīng)使用光澤吸收阱，用 0/d 或 d/0 表示。

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